| El rango de espectro abarca de 300 a 1200 nm, lo que permite realizar pruebas de espectro completo en células de silicio cristalino de alta eficiencia y mejora considerablemente la precisión de la prueba. La conexión de cuatro hilos y el sistema de adquisición de datos de alta velocidad garantizan la precisión de la medición de la corriente de las células solares. La medición de temperatura infrarroja sin contacto mide con precisión la temperatura de los componentes y garantiza la precisión de la compensación de temperatura. Es adecuado para probar y registrar los parámetros de rendimiento eléctrico de los módulos de células solares de silicio cristalino (PERC, tipo N, CIGS, Topcon y HJT, etc.).
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| Characteristics |
| – A+A+A+ standard: higher than IEC60904-9 2020 version standard. |
| – 300-1200nm full spectrum light: more realistic reflection of the responding capacity of modules at each wavelength. |
| – A+ class spectrum matching |
| – Electronic load: the scanning direction supports Isc →Voc and Voc → Isc |
| – Measurement objects: PERC, N type, HJT, CIGS, ordinary crystal silicon and other technical components |
| – Provide calibration certificate from Metrology Institution |




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